Development of Multiple New 120 kV Transmission Electron Microscope Configurations Applicable for a Wide Range of Fields

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2017-07, Vol.23 (S1), p.62-63
Hauptverfasser:	Tamura, K., Fujii, T., Mise, H., Nagaoki, I., Kageyama, K., Wakui, A., Shirai, M., Matsumoto, H., Konomi, M., Yaguchi, T.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Vendor Symposium
Online-Zugang:	Volltext
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