Corrigendum to: Electrical and dielectric characterization of Ge quantum dots embedded in MIS structure (AuPd/SiO2:Ge QDs/n-Si) grown by MBE [Journal Title: Physica B: Condensed Matter, Volume 685, 15 July 2024, 415962 https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S092145262400303X?via%3Dihub]
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Veröffentlicht in: | Physica. B, Condensed matter Condensed matter, 2024-08, Vol.686, p.416081, Article 416081 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0921-4526 1873-2135 |
DOI: | 10.1016/j.physb.2024.416081 |