The Study and Modeling of saturation drain voltage for junctionless FinFET

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Micro and nanostructures (2022) 2024-04, Vol.188, p.207798, Article 207798
Hauptverfasser:	Lou, Haijun, Lei, Qianjin, Yang, Yumei, Lin, Xinnan
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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