RF/Linearity figures of merit estimation for GaAs and GaN/SiC-based Nano-HEMTs

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Micro and nanostructures (2022) 2022-11, Vol.171, p.207426, Article 207426
Hauptverfasser:	Abdul Alim, Mohammad, Ali, Mayahsa M., Rezazadeh, Ali A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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