Detection by XRD of hidden defects in epitaxial B i 2 S r 2 C a C u 2 O 8 thin films grown by PLD

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Materials chemistry and physics 2020-01, Vol.239, p.122020, Article 122020
Hauptverfasser:	Yelpo, Carla, Favre, Sofía, Ariosa, Daniel
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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