Correction: Fabrication and Characterization of Boron-Implanted Silicon Superconducting Thin Films on SOI Substrates for Low-Temperature Detectors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of low temperature physics 2024-11
Hauptverfasser:	Aliane, A., Dussopt, L., Kerdilès, S., Kaya, H., Acosta-Alba, P., Bernier, N., Papon, A.-M., Martinez, E., Veillerot, M., Lefoch, F.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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