$Simultaneous Measurement of Refractive Index and Thickness by Low Coherence Interferometry Considering Chromatic Dispersion of Index$

Simultaneous Measurement of Refractive Index and Thickness by Low Coherence Interferometry Considering Chromatic Dispersion of Index

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Optical review (Tokyo, Japan) Japan), 2000-09, Vol.7 (5), p.468-472
Hauptverfasser:	Maruyama, Hideki, Mitsuyama, Teruki, Ohmi, Masato, Haruna, Masamitsu
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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