EFTEM and EELS analysis of a Pt/NiO interface

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Mikrochimica acta (1966) 2000-01, Vol.133 (1-4), p.125-129
Hauptverfasser:	GROGGER, W, HOFER, F, KRAUS, B, ROM, I, SITTE, W, WARBICHLER, P
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical chemistry Chemistry Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Diffusion interface formation Exact sciences and technology Physics Solid surfaces and solid-solid interfaces Spectrometric and optical methods Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
Online-Zugang:	Volltext
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