Composition analysis of single semiconductor nanowires using pulsed-laser atom probe tomography

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Applied physics. A, Materials science & processing Materials science & processing, 2006-11, Vol.85 (3), p.271-275
Hauptverfasser:	Perea, D.E., Lensch, J.L., May, S.J., Wessels, B.W., Lauhon, L.J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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