Applications of electron microscopy to the characterization of semiconductor nanowires

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Applied physics. A, Materials science & processing Materials science & processing, 2006-11, Vol.85 (3), p.227-231
Hauptverfasser:	Tham, D., Nam, C.-Y., Byon, K., Kim, J., Fischer, J.E.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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