Development of confocal X-ray fluorescence (XRF) microscopy at the Cornell high energy synchrotron source

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics. A, Materials science & processing Materials science & processing, 2006-05, Vol.83 (2), p.235-238
Hauptverfasser: Woll, A.R., Mass, J., Bisulca, C., Huang, R., Bilderback, D.H., Gruner, S., Gao, N.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0947-8396
1432-0630
DOI:10.1007/s00339-006-3513-4