Interplay of surface morphology, strain relief, and surface stress during surfactant mediated epitaxy of Ge on Si

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics. A, Materials science & processing Materials science & processing, 1999-11, Vol.69 (5), p.481-488
Hauptverfasser: Zahl, P., Kury, P., Horn von Hoegen, M.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0947-8396
1432-0630
DOI:10.1007/s003390051445