Mapping the domain distribution at ferroelectric surfaces by scanning force microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics. A, Materials science & processing Materials science & processing, 1998-03, Vol.66 (7), p.S231-S234
Hauptverfasser: Abplanalp, M., Eng, L.M., Günter, P.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0947-8396
1432-0630
DOI:10.1007/s003390051136