Line-scan sequential lateral solidification of Si thin films

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics. A, Materials science & processing Materials science & processing, 1998-09, Vol.67 (3), p.273-276
Hauptverfasser: SPOSILI, R. S, IM, J. S
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0947-8396
1432-0630
DOI:10.1007/s003390050770