Potentiometry with the acoustic near field microscope: A new method for microscopy of surface potentials

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Applied physics. A, Materials science & processing Materials science & processing, 1996-12, Vol.64 (1), p.19-27
Hauptverfasser:	Steinke, R., Hoffmann, M., Böhmisch, M., Eisenmenger, J., Dransfeld, K., Leiderer, P.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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