Structural characterization of thin films formed or changed on materials by micro Raman spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Fresenius' journal of analytical chemistry 1998-08, Vol.361 (6-7), p.619-620
Hauptverfasser:	WITKE, K, BRZEZINKA, K.-W, REICH, P
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Structure and morphology thickness Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) Thin film structure and morphology
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