Application of factor analysis in EDXRF

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Fresenius' journal of analytical chemistry 1997-09, Vol.359 (1), p.61-66
Hauptverfasser:	MOLT, K, SCHRAMM, R
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical chemistry Chemistry Electron spectroscopy (x-ray photoelectron (XPS), Auger electron spectroscopy(AES), etc.) Exact sciences and technology Spectrometric and optical methods
Online-Zugang:	Volltext
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