500 MHz 90 nm CMOS 2  $$\times $$ ×  VDD Digital Output Buffer Immunity to Process and Voltage Variations

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Circuits, systems, and signal processing systems, and signal processing, 2019-02, Vol.38 (2), p.556-568
Hauptverfasser: Wang, Chua-Chin, Tsai, Tsung-Yi, Deng, Yu-Lin, Lee, Tzung-Je
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0278-081X
1531-5878
DOI:10.1007/s00034-018-0895-4