Measurement of Surface Roughness of Aluminum Ground Samples Using White Light Interference Microscope

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of optics (New Delhi) 2001-12, Vol.30 (4), p.143-150
1. Verfasser:	Sidki, H. M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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