Real-time optical monitoring of epitaxial growth : pulsed chemical beam epitaxy of GaP and InP homoepitaxy and heteroepitaxy on Si

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Veröffentlicht in:Journal of electronic materials 1995-11, Vol.24 (11), p.1571-1576
Hauptverfasser: DIETZ, N, ROSSOW, U, ASPNES, D, BACHMANN, K. J
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0361-5235
1543-186X
DOI:10.1007/BF02676813