Resonance lonization spectroscopy for quantitative and sensitive surface and bulk measurements of impurities in II-VI materials

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of electronic materials 1995-05, Vol.24 (5), p.515-519
Hauptverfasser:	Sen, S., Stannard, J. E., Johnson, S. M., Arlinghaus, H. F., Bekov, G. I.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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