Effects of shock-induced defect density on flux pinning in melt-textured YBa2Cu3O7-δ

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of electronic materials 1994-11, Vol.23 (11), p.1111-1115
Hauptverfasser: KRAMER, M. J, MCCALLUM, R. W, NELLIS, W. J, BALACHANDRAN, U
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0361-5235
1543-186X
DOI:10.1007/BF02649955