A method to correct defocused element distribution maps in electron probe microanalysis

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Mikrochimica acta (1966) 1997-01, Vol.125 (1-4), p.229-234
Hauptverfasser:	KLUCKNER, M, BRANDL, O, WEINBRUCH, S, STADERMANN, F. J, ORTNER, H. M
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Electron, ion spectrometers and related techniques Exact sciences and technology Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy Physics
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