Recoil spectrometry : ion accelerator based elemental characterisation of surface layers

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Mikrochimica acta (1966) 1995-03, Vol.120 (1-4), p.171-181
Hauptverfasser: WHITLOW, H. J, ANDERSSON, M, JOHNSTON, P. N, BUBB, I. F, WALKER, S. R, JOHANSON, E, HOGMARK, S, INGEMARSSON, P. A, HULT, M, PERSSON, L, MOHAMED EL BOUANANI, ÖSTLING, M, ZARING, C, LUNDBERG, N, COHEN, D. D, DYTLEWSKI, N
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0026-3672
1436-5073
DOI:10.1007/BF01244430