Quantitative characterization of chaotic instabilities in semiconductors

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Veröffentlicht in:Applied Physics A Solids and Surfaces 1989-02, Vol.48 (2), p.181-188
Hauptverfasser: POZELA, J, NAMAJUNAS, A, TAMASEVICIUS, A, ULBIKAS, J
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0721-7250
1432-0630
DOI:10.1007/BF01141282