In situ examination of radiation-induced internal stress relaxation in the column of a high-voltage electron microscope

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Soviet Atomic Energy 1984-03, Vol.56 (3), p.147-150
Hauptverfasser:	Novikov, I. I., Ermishkin, V. A., Zharkov, V. G., Samoilov, E. N., Lupakov, I. S., Rodchenkov, B. S.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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