Constrained state assignment of easily testable FSMs
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Veröffentlicht in: | Journal of electronic testing 1995-02, Vol.6 (1), p.133-138 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | |
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ISSN: | 0923-8174 1573-0727 |
DOI: | 10.1007/BF00993136 |