Measurement in the ultrashort wave range of the parameters of diodes with a negative bias

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Measurement techniques 1966-02, Vol.9 (2), p.235-237
1. Verfasser: Skugarev, V. V.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0543-1972
1573-8906
DOI:10.1007/BF00977111