Multichip systems trade-off analysis tool

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of electronic testing 1994-05, Vol.5 (2-3), p.207-218
Hauptverfasser:	Sandborn, Peter A., Ghosh, Rajarshi, Drake, Ken, Abadir, Magdy, Bal, Linda, Parikh, Ashish
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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