A critical review of theS/L reliability index

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of psychopathology and behavioral assessment 1985-09, Vol.7 (3), p.277-287
Hauptverfasser:	Suen, Hoi K., Lee, Patrick S. C., Prochnow-LaGrow, Jane E.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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