Standard orientation specimens based on silicon single crystals

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Measurement techniques 1984-03, Vol.27 (3), p.266-268
Hauptverfasser:	Kholodnyi, L. P., Terent'ev, G. I., Krol', I. M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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