Estimate of the quality of epitaxial p-n structures by the external quantum yield of radiation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Measurement techniques 1981-01, Vol.24 (1), p.83-84
Hauptverfasser:	Rogulin, V. Yu, Shub, V. ., Shlenskii, A. A., Popova, E. V.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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