Method for testing electronic-circuit tolerances by means of their functional element heat radiation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Measurement techniques 1980-08, Vol.23 (8), p.757-760
1. Verfasser: Vlasov, N. I.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0543-1972
1573-8906
DOI:10.1007/BF00825612