Layer-by-layer analysis of A4B6 thin-film heterostructures using inductively coupled plasma atomic fluorescence spectrometry (ICP-AFS)

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Fresenius' Journal of Analytical Chemistry 1994-06, Vol.349 (6), p.424-427
Hauptverfasser:	BOBRUIKO, V. B, GLAVIN, G. G, GASKOV, A. M, MASO, G. N
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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