Nano-wear of the diamond AFM probing tip under scratching of silicon, studied by AFM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Tribology letters 1996, Vol.2 (4), p.345-354
Hauptverfasser:	Khurshudov, Andrei G., Kato, Koji, Koide, Hiroyuki
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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