Multiple domain feature mapping: a methodology based on deep models of features

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of intelligent manufacturing 1995-08, Vol.6 (4), p.245-262
Hauptverfasser:	Lim, S. S., Lim, Lennie E. N., Lee, Ivan B. H., Ngoi, Bryan K. A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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