Magnetic Properties of Ti 3 O 5 with Chromium Additions

Magnetic susceptibility measurements were used to study solid solutions Ti 3−x Cr x O 5 (0 ⩽ × ⩽ 0.17). Contributions to magnetic susceptibility for the α‐phase were defined by the statistical analysis of the experimental data. A conclusion was made on the varing character of exchange interactions i...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Zeitschrift für anorganische und allgemeine Chemie (1950) 1987-01, Vol.544 (1), p.21-27
Hauptverfasser: Shveikin, G. P., Kellerman, D. G., Gorshkov, V. S., Perelyaev, V. A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:Magnetic susceptibility measurements were used to study solid solutions Ti 3−x Cr x O 5 (0 ⩽ × ⩽ 0.17). Contributions to magnetic susceptibility for the α‐phase were defined by the statistical analysis of the experimental data. A conclusion was made on the varing character of exchange interactions in α‐Ti 3−x Cr x O 5 with increasing Cr content. In the present work, the information given indicates that Cr stabilizes the high‐temperature α‐Ti 3 O 5 and decreases the temperature of semiconductor‐metal phase transition. Magnetic properties of low‐temperature α‐Ti 3 O 5 phase with chromium addition are shown to be explained by the existence of exchange‐coupled pairs Ti 3+ Cr 3+ . Magnetische Eigenschaften von Ti 3 O 5 mit Chrom‐Zusätzen Magnetische Messungen wurden zur Untersuchung der festen Lösungen Ti 3−x Cr x O 5 (0 ⩽ x ⩽ 0,17) ausgeführt. Anteile zur magnetischen Suszeptibilität der α‐Phase werden mittels statistischer Analyse der experimentellen Daten erklärt. Rückschlüsse auf den sich ändernden Charakter der Austauschwechselwirkungen im α‐Ti 3−x Cr x O 5 mit steigendem Cr‐Gehalt werden gezogen. Die Daten zeigen, daß Chrom die Hochtemperatur‐α‐Ti 3 O 5 ‐Phase stabilisiert und die Temperatur für den Halbleiter‐Metall‐Übergang senkt. Die magnetischen Eigenschaften der Tief‐temperatur‐β‐Phase können durch die Existenz von Austausch‐Paaren Ti 3+ Cr 3+ erklärt werden.
ISSN:0044-2313
1521-3749
DOI:10.1002/zaac.19875440103