Charakterisierung von Glas und Glasbeschichtung mittels oberflächensensibler Sondenverfahren
Die dargestellten Beispiele der Oberflächen‐ und Mikrobereichsanalyse an Gläsern zeigen, daß die physikalisch orientierten Sondenverfahren praktikabel in den Bereichen Entwicklung, Prozeßkontrolle und Fehleranalyse sind. Aufgrund der für diese Untersuchungen erforderlichen gerätetechnischen Ausstatt...
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Veröffentlicht in: | Vakuum in Forschung und Praxis : Zeitschrift für Vakuumtechnologie, Oberflèachen und Dünne Schichten Oberflèachen und Dünne Schichten, 1998, Vol.10 (1), p.32-34 |
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Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | Die dargestellten Beispiele der Oberflächen‐ und Mikrobereichsanalyse an Gläsern zeigen, daß die physikalisch orientierten Sondenverfahren praktikabel in den Bereichen Entwicklung, Prozeßkontrolle und Fehleranalyse sind. Aufgrund der für diese Untersuchungen erforderlichen gerätetechnischen Ausstattung und der notwendigen fachlichen und meßtechnischen Erfahrung nutzen eine wachsende Zahl von Glas‐ und Beschichtungsfachleuten externe High Tech Dienstleistungslaboratorien.
The presented results of investigations by surface and microanalytical methods confirm the suitability of electron beam and scanning probe techniques for process monitoring, support of process development and defect analyses in the glass industry. More and more glass and coating specialists use the high tech service provided by an external laboratory with its wide range of experience and knowledge. |
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ISSN: | 0947-076X 1522-2454 |
DOI: | 10.1002/vipr.19980100109 |