Information on Surface Structure by Low Energy Electron Diffraction

In den letzten Jahrzehnten ist die quantitative Bestimmung von Oberflächenstrukturen zu einem wichtigen und interessanten Gebiet der Festkörperphysik geworden. Eine der leistungsfähigsten Methoden dieser Oberflächenkristallographie ist die Beugung langsamer Elektronen (Low Energy Electron Diffraction = LEED). Mittels Analyse von LEED‐Bildern und ‐Intensitäten können Gestalt und Größe der Oberflächeneinheitszelle, der Ordnungszustand und der atomare Aufbau bestimmt werden. Hochentwickelte Videomeßtechniken erlauben eine schnelle und verläßliche Datenaufnahme. Die dynamische Analyse der Intensitäten, die die Vielfachstreuung der Elektronen berücksichtigt, liefert den strukturellen Aufbau der Oberfläche mit einer Genauigkeit von bis zu 10−12 m. During the last decades the investigation of surface structures has become an important and interesting subject of solid state physics. One of the most powerful methods of this surface crystallography is Low Energy Electron Diffraction (LEED). By the analysis of LEED patterns and intensities the size and shape of the surface unit cell, the degree of order and the atomic structure can be determined. Sophisticated video based measurement techniques allow the fast and reliable acquisition of data. The dynamical analysis of intensities, which fully accounts for the multiple scattering of electrons, yields the structure of the surface with a precision of the order of 10−12 m for atomic positions.