Command of a mini-scanning electron microscope by digital computer for use in industrial process
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Veröffentlicht in: | Scanning 1985, Vol.7 (3), p.158-161 |
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Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | |
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ISSN: | 0161-0457 1932-8745 |
DOI: | 10.1002/sca.4950070308 |