The Scanning Tunneling Microscope Investigation of Grain Boundaries in Silicon

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physica status solidi. A, Applied research Applied research, 1991-01, Vol.123 (1), p.193-199
Hauptverfasser:	Edelman, V. S., Fionova, L. K., Polyak, L. E., Stepanyan, G. A., Volodin, A. P., Stepantsov, E. A.
Format:	Artikel
Sprache:	ger
Online-Zugang:	Volltext
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