Effect of Multiple Trapping on Photoreceptor Discharge Characteristics under the Condition of Surface Carrier Generation

The potential relaxation of amorphous photoreceptors under continuous surface generation of electron‐hole pairs is considered. An analytical solution of the problem is presented for an arbitrary energy distribution of localized levels assuming a dispersive regime of carrier transport. The time dependence of the photoreceptor potential V vs. t appears to be sensitive to the rate of generation. If the generation rate is sufficiently low, the curve V vs. t has a portion of linear decrease, which disappeares for higher values of the generation rate. The experiments are realized in electrophotographic mode using the strongly absorbed light with polyanthracenylglycedylic ether (PAGE) films coated on SnO2 conducting glass. The experimental results are in good agreement with the theoretical dependences calculated for the exponential model of localized level energy distribution. La décharge du photorécepteur amorphe sous l'action de la photogénération continue des électrons et des trous æ la surface d'échantillon est examinée dans cette étude. La solution analytique est obtenue pour une distribution énergétique arbitraire des niveaux‐pieges, quand le transfert de charge est anomal. La tension V en fonction de temps t est sensible au taux de la photogénération de porteurs. Quand il est suffisamment bas, la courbe V vs. t a une portion de décroissance linéaire de V, tandis que pour les valeurs plus grandes cette portion disparaǐt. La relaxation de tension a été observée sur des films d'éther poly‐anthracenyl‐glycedylique obtenus par déposition sur une lame de verre conductible de SnO2, en régime électrophotographique utilisant la lumiere fort absorbée par l'échantillon. Les résultats expérimentaux sont compatibles avec ceux théoriques quand on suppose la répartition exponentielle des niveux‐pieges en fonction d'énergie.