Investigation of traps in the transition region of SiSiO2 structures at cryogenic temperatures

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physica status solidi. A, Applied research Applied research, 1982-06, Vol.71 (2), p.619-626
Hauptverfasser: Lysenko, V. S., Sytenko, T. N., Zimenko, V. I., Snitko, O. V.
Format: Artikel
Sprache:ger
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0031-8965
1521-396X
DOI:10.1002/pssa.2210710239