Peculiarities of the thickness dependences of the bismuth film structure and resistivity

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physica status solidi. A, Applied research Applied research, 1974-03, Vol.22 (1), p.K3-K6
Hauptverfasser: Borzyak, P. G., Vatamanyuk, V. I., Kulyupin, Yu. A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0031-8965
1521-396X
DOI:10.1002/pssa.2210220144