Spin-wave resonance studies on chemical vapor deposited YIG films

We report perpendicular spin‐wave resonance measurements in single crystal YIG films at 77 K and several frequencies. For films of thickness 0.9 μm the SWR mode positions follow a quadratic (n2) dependence. For 0.37 μm thick films sizeable deviations appear at n > 4. Further, these deviations increase with microwave frequency. Effects of annealing these films at several temperatures between 700 and 1250 °C have also been studied. It is suggested that the data can be roughly understood by invoking a diffusion region, of varying magnetization, at the YIG‐substrate interface. L'article décrit des études d'ondes de spin en résonance perpendiculaire à plusieurs fréquences sur des couches monocristallines d'YIG. Pour des couches d'épaisseur 0,9 μm, les positions des modes de résonance suivent une loi quadratique (n2). Pour des couches d'épaisseur 0,37 μm, des déviations assez grandes apparaissent pour n > 4. De plus ces déviations augmentent avec la fréquence microonde. On a aussi étudié l'effet sur ces films de recuits à différentes températures entre 700 et 1250 °C. On suggère que les résultats peuvent ětre assez bien expliqués en postulant une région de diffusion, d'aimantation variable, à l'interface YIG–substrat.