Eliminating the Extinction-Induced Reflection Enlargement in the XRD Characterisations of Textured Films

This investigation throws additional light on the nature of secondary extinction (SE). A method is described for computing the correct integral breadth using the observed one, which is affected by SE. The method is applied for more precise measuring the integral breadths of reflections corresponding to the ideal directions of main texture components of electrodeposited silver films. Further, the effect of SE on the systematic error in integral breadth measurements is investigated in dependence on the reflectivity and pole density. Eliminierung der durch Extinktion verursachten Verbreitung der Röntgenbeugungslinien in texturierten Schichten Die Untersuchung trägt zur die Klärung der Natur der sekundären Extinktion (SE) bei. Eine Methode für die Berechnung der korrekten integralen Linienbreite unter Anwendung der beobachteten Linienbreite, die von der SE beeinflußt ist, wird beschrieben. Die Methode wurde für die präzise Messung der Integralbreite der Reflexionen entsprechend der Ideallagen der Haupttexturkomponenten der elektrolytisch abgeschiedenen Silberschichten angewendet. Der Einfluß der SE auf den systematischen Fehler bei den Messungen der integralen Linienbreite in Abhängigkeit von dem Reflexionvermögen und der Poldichte wurde untersucht.