Properties of oriented TTF-TCNQ thin films
Vapour deposited thin films of the organic molecular complex tetrathiafulvaliniumtetracyanoquinodimethane (TTF‐TCNQ) are investigated by electrical and electronmicroscopical methods. Morphology studies by means of electron micrographs show, that the thin films up to thicknesses of 300 nm consist of...
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Veröffentlicht in: | Kristall und Technik 1980, Vol.15 (2), p.243-251 |
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Hauptverfasser: | , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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