$Single Crystal X-Ray Diffraction Study of CsHSi2O5$

Single Crystal X-Ray Diffraction Study of CsHSi2O5

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	ChemInform 2003-08, Vol.34 (33), p.no-no
Hauptverfasser:	Doersam, Guido, Kahlenberg, Volker, Fischer, Reinhard X.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	silicon silicon, Si structure (solids and liquids)
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:	For see ChemInform in Full Text.
ISSN:	0931-7597 1522-2667
DOI:	10.1002/chin.200333009