Widerstandsmessungen am Bor und am Siliciumcarbid

Widerstandsmessungen an reinstem Bor sprechen dafür, daß der im Schrifttum angegebene hohe Wert des Widerstandes und seines Temperaturkoeffizienten nur durch isolierende Zwischenschichten vorgetäuscht wird. Der wahre Wert dürfte unter 1 Ohm × cm liegen. Zum Vergleich sind Messungen an klaren Siliciu...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Annalen der Physik 1937-01, Vol.420 (3), p.245-263
1. Verfasser: Henninger, Franz Paul
Format: Artikel
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:Widerstandsmessungen an reinstem Bor sprechen dafür, daß der im Schrifttum angegebene hohe Wert des Widerstandes und seines Temperaturkoeffizienten nur durch isolierende Zwischenschichten vorgetäuscht wird. Der wahre Wert dürfte unter 1 Ohm × cm liegen. Zum Vergleich sind Messungen an klaren Siliciumcarbidkristallen bei verschiedenen Temperaturen ausgeführt worden.
ISSN:0003-3804
1521-3889
DOI:10.1002/andp.19374200305