Reliability Issues of Thin Film Transistors Subject to Electrostatic Discharge Stresses: An Overview (Adv. Electron. Mater. 2/2022)

Electrostatic Discharge Electrostatic discharge is one of the most prevalent threats to the reliability of electronic components. In article 2100886, Yan Yan, Juin J Liou, and co‐workers provide an overview to summarize the existing articles on the topic of reliability issues of thin film transistor...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Advanced electronic materials 2022-02, Vol.8 (2), p.n/a
Hauptverfasser:	Yan, Yan, Lan, Wenrui, Chen, Yuankang, Yang, Dongbu, Zhou, Ye, Zhu, Zhihua, Liou, Juin J
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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